FCC認(rèn)證流程是什么？

1、準(zhǔn)備產(chǎn)品相關(guān)資料：說明書或者規(guī)格書

2、確認(rèn)認(rèn)證方式和費(fèi)用

3、填寫申請表，并準(zhǔn)備樣品

4、收到樣品后測試

5、測試完成出具報(bào)告和證書

這是針對普通產(chǎn)品的FCC認(rèn)證流程，如果產(chǎn)品是無線設(shè)備，資料相對要求多一些。

注意事項(xiàng)
遞交測試的樣機(jī)一定要與大貨一致，且如配有充電器，必須是美規(guī)插頭
提供的資料也需與樣機(jī)本身一致，如線路圖、PCB圖、方框圖……
申請F(tuán)CC ID，需要先注冊一個(gè)Grantee code，即公司代碼。且Grantee code申請下來后，證書上的公司信息及聯(lián)系人將與申請CODE時(shí)提供的信息一致。

頻率穩(wěn)定性

需要考查的頻率穩(wěn)定性包括環(huán)境溫度和輸入電壓變化時(shí)，產(chǎn)品頻率確定和穩(wěn)定電路的頻率的變化情況，在特殊情況下，還可能包括產(chǎn)品配用不同的天線或在較大的金屬物體附近移動(dòng)時(shí)的頻率穩(wěn)定性。

溫度變化的范圍是-30℃~+50℃，測量的溫度間隔不大于10℃。測量每個(gè)溫度點(diǎn)的頻率時(shí)，都需要等待足夠長的時(shí)間以使諧振電路相關(guān)的元件達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)。

電壓變化的范圍是額定工作電壓的85%~115%，對依靠電池工作的便攜產(chǎn)品，低電壓可以是截止電壓。

頻譜特征

對雜散發(fā)射和輻射場強(qiáng)評估和測量的頻譜范圍，將依據(jù)產(chǎn)品的工作頻率來確定。進(jìn)行頻譜特征研究的低頻率可以選擇產(chǎn)品實(shí)際使用的低頻率點(diǎn);如果低頻率低于9kHz，則選擇9kHz作為研究的低頻率點(diǎn)。高頻率的選擇遵循以下原則:

(1)對于工作頻率在10GHz以下的產(chǎn)品，選擇高基頻的10次諧波作為評估的高頻率，如果10次諧波的頻率大于40GHz，則選擇40GHz作為評估的高頻率。

(2)對于工作頻率在10GHz和30GHz之間的產(chǎn)品，選擇高基頻的5次諧波作為評估的高頻率，如果5次諧波的頻率大于100GHz，則選擇100GHz作為評估的高頻率。

(3)對于工作頻率在30GHz以上的產(chǎn)品，選擇高基頻的5次諧波作為評估的高頻率，如果5次諧波的頻率大于200GHz，則選擇200GHz作為評估的高頻率。

提供資料
凡進(jìn)入美國的通信電子類產(chǎn)品都需要進(jìn)行FCC認(rèn)證，即通過由FCC直接或者間接授權(quán)的實(shí)驗(yàn)室根據(jù)FCC技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢測和批準(zhǔn)。

申請的基本要求

FCC對無線通信產(chǎn)品的要求主要包含在CFRTitle47的Part2和Part24兩部分中，而工作在1920MHz-1930MHz頻段的個(gè)人通信業(yè)務(wù)(PCS)相關(guān)的設(shè)備則在Part15的subpartD中作了規(guī)定，其他相關(guān)信息如費(fèi)用要求、管理要求等則在Part0和Part1中描述。

基本申請信息

申請人需要準(zhǔn)備的基本信息主要包括三類:申請人及申請產(chǎn)品的基本信息、產(chǎn)品規(guī)格和認(rèn)證信息。申請人必須清晰、明確地回答有關(guān)問題，對不屬于申請范圍的內(nèi)容要明確標(biāo)注。基本信息通過網(wǎng)絡(luò)以電子文檔的形式提交給FCC。

占用帶寬

測量占用帶寬時(shí)，對采用不同調(diào)制方式的產(chǎn)品，測量方法將有所不同，但基本原則是選擇典型業(yè)務(wù)模式下調(diào)制信號具有大幅度的情況來進(jìn)行測試，并且在報(bào)告中對輸入的調(diào)制信號做詳細(xì)說明。

天線端口的雜散發(fā)射

除了產(chǎn)品有用頻點(diǎn)處的射頻功率或電壓外，還需要對無用的雜散頻率進(jìn)行測量。測量時(shí)，可以在天線輸出端口加上合適的假天線;諧波和一些比較顯著的雜散發(fā)射點(diǎn)需要重點(diǎn)關(guān)注。

雜散輻射場強(qiáng)

該項(xiàng)測試主要檢測產(chǎn)品機(jī)殼端口、控制電路模塊和電源端口的諧波和一些較顯著的雜散發(fā)射頻點(diǎn)的場強(qiáng)。工作頻率低于890MHz的產(chǎn)品，測量需要在開闊場或者電波暗室中進(jìn)行。對于現(xiàn)場測試，需要對測量現(xiàn)場附近的射頻源及明顯的反射物體做詳細(xì)的調(diào)查分析與說明。
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